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薄膜電弱點(diǎn)測試儀-本儀器方式為微機(jī)控制，卷膜移動速度可設(shè)定，按照設(shè)定的升壓速率升壓，達(dá)到設(shè)定的電壓后，實(shí)時記錄當(dāng)前的電壓值和電流值，并能夠?qū)崟r記錄當(dāng)前的擊穿點(diǎn)，試驗結(jié)束后自動歸零，自動統(tǒng)計電弱點(diǎn)數(shù)、電弱線數(shù)，自動計算每平方米的電弱點(diǎn)數(shù)。

新款DRD系列薄膜電弱點(diǎn)試驗機(jī)-該儀器主要用于電氣用聚氨脂薄膜、塑料薄膜、聚丙稀薄膜等絕緣材料在給定直流電壓下自動升壓測定每平方米的擊穿點(diǎn)數(shù)。

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